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标题: 国微电子工业对超净高纯试剂的颗粒质量要求标准 [打印本页]

作者: guolvfenlitech8 时间: 2021-1-8 10:38
标题: 国微电子工业对超净高纯试剂的颗粒质量要求标准
本帖最后由 guolvfenlitech8 于 2021-1-8 10:41 编辑

2021-01-08 环球过滤分离技术网 guolvfenlitech8

国微电子工业对超净高纯试剂的颗粒质量要求标准

当今世界超净高纯试剂的标准

大约分为四类 , 一类是以 SEM I 标准为基础的美国试剂; 一类是以 M ERC K 为主的欧洲试剂 ; 一类是以关东、和光等为代表的日本试剂 ;另一类是以 IR EA 公司为代表的俄罗斯及前苏联地区试剂。

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