Phenom G2 pro-FEI旗下PhenomWorld台式电子显微镜
表面细节丰富的高分辨率照片 | ||
Phenom（飞纳） G2 Pro 为您提供高信噪比、表面细节丰富的优质图像： | ||
| • 20×-45,000×连续放大，分辨率优于25nm，大景深； | ||
| • 传统电镜往往通过提高加速电压来产生更高的信号，同时由于穿透深度较深，导致表面细节缺失。低加速电压 | ||
| 电子穿透深度浅，避免样品被破坏，展现更多表面细节； | ||
| • 探测背散射电子，展现清晰形貌结构的同时，提供丰富的成份信息； | ||
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| CeB6灯丝在样品表面单位面积内激发的信号约是钨灯丝的10倍，适合于低加速电压观测 | |
表面形貌和成分信息同时展现 | |
| 背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom（飞纳）采用4分割半导体背散射电子探测器，为您提供两种成像模式，模式之间可迅速切换： | |
| • 成份模式：同时给出样品表面形貌与成份信息，不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨 | |
| • 形貌模式：去除成份信息，样品表面凹凸起伏等微观结构更加明晰，适用于表面粗糙度和缺陷分析 | |
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成份模式 | 形貌模式 |
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成份模式图像包含样品成份与形貌信息 | 形貌模式图像仅突出样品表面形貌特征 |
样品杯，30秒快速成像 | |
| Phenom（飞纳）样品杯、低真空设计、的真空封锁技术，装入样品后30秒内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的1/10左右。 | |
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直接观看绝缘体，无需喷金 |
Phenom（飞纳）采用低真空技术，出射电子与空气分子碰撞产生正离子，正离子与样品表面累积的电子中和，有效抑制荷电效应的产生，直接观测各种不导电样品（如下图所示）。 利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高8倍左右，而且不会影响灯丝寿命，下图头发示例： |
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操作简便，全程导航 | ||
• 自动/手动聚焦 | Phenom（飞纳）操作界面。通过点击右侧图标可以轻松完成图像缩放、聚焦、亮度对比度调节、旋转等操作。界面右侧显示光学导航和低倍SEM导航窗口，方便用户在不同样品、不同区域间进行切换。 | |
| • 自动/手动亮度 | ||
| • 自动/手动对比度 | ||
| • 自动灯丝居中调节 | ||
| • 自动马达样品台 | ||
| • 光学/电子样品导航 | ||
 | 光学导航，所有带观测样品尽在视野之中，高倍下准确切换样品，只需点击感兴趣样品，即可自动移动到屏幕* | ||
低倍SEM照片导航，导航窗口中的彩色矩形框指示了住观测窗口的观测区域，点击感兴趣的区域，自动移动到样品*。 | |||
环境适应性高，*防震 |
Phenom（飞纳）可以放置在几乎所有的室内环境当中，无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计，震动不会引起三者间的相对运动，使Phenom成像不受震动影响，可放置在较高楼层。 |
互联网远程检测 |
Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供*的保护，让您的Phenom随时处于*工作状态。 |
丰富的拓展功能选件 |
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适用于不同领域的样品杯选件 |
复纳科学仪器（上海）有限公司
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