TriStar II3020高性能多通

TriStar  II3020高性能多通道全自动比表面积及孔隙度分析仪

设备名称：

TriStar II 3020高性能多通道全自动比表面积及孔隙度分析仪

设备简介：

TriStar II 3020是美国Micromeritics Instrument Corporation公司生产的一款高性能多通道全自动比表面积及孔隙度分析仪。可以进行材料比表面积、孔径分布、孔体积等的测试。分析范围为：材料比表面积 0.01 m2/g至已知无上限，孔径分析范围0.35-500 nm。可测试吸-脱附等温线，提供BET、Langmuir比表面积，BJH、DFT平均孔径分布和孔体积等数据。适用于各种固体材料的研究与产品测试，包括测量沸石、分子筛、碳材料、二氧化硅、氧化铝、土壤、岩石、固态高分子、有机金属化合物骨架结构等各种材料。广泛应用于催化、吸附、环境、建筑等领域。

技术参数：

1. 配备6站样品预处理系统，温度范围：室温-400摄氏度；

2.可同时和独立分析三个样品，P0站和各气路配有独立的压力传感器（分辨率≤0.05 mmHg）；

3. 分析范围：比表面积：0.01 m2/g至无已知上限；孔径分析范围：3.5 Å to 5000 Å；

4. 等温线测试温度：77 K（液氮环境）。

5. 吸附质：氮气。

6. 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法，提供以下数据处理模型：BET比表面积，Langmuir表面积；BJH 孔径分布，Dubinin-Radushkevich 微孔面积；总孔体积：由用户选取可选的 P/P0 ；平均孔径：半径，直径； 统计壁厚（t-曲线）：de Boer， Halsey或碳黑模型；T-plot法：微孔表面积，中孔表面积，微孔体积，相关系数；微孔孔径分布：MP，HK，SF，DA，DFT/NLDFT。

用　　途：
药品、陶瓷、活性炭、碳黑、油漆和涂料、催化剂、推进燃料、医用植入体、化妆品、电子产品、碳纳米管、燃料电池、航空领域隔热层以及绝热材料的比表面以及孔隙度的测定。
TriStar II 3020是全自动三站式比表面积和孔隙度分析仪，能够提高质量控制分析的检测速度，并提供高精度、高分辨率和数据处理功能以满足绝大多数研发的需要。
技术特点
· 同时和独立分析三个样品 - 三个BET表面积分析时间少于20分钟
· 标配一个的饱和压力接口，可选多种规格杜瓦瓶以及样品管
· 可升级成高真空系统，用于低比表面积以及微孔的测试
· 可以测定、计算或手动输入自由空间
· 可以使用任何气体，死体积测试可以不使用氦气
· 可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务，确保该系统的准确性、可靠性和*性。这些服务保障了分析记录的完整性
· 仪器配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹，以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定
· 仪器可同时进行三个样品的分析，满足测试量大的用户，不是多个工作站的"排队分析"，每个分析站都配有独立的传感器，保证三个分析站分析的同时进行
· 配备了大容量杜瓦瓶，结合的液氮等温夹，保证至少60小时无人介入操作。zui大无上限的连续分析            
· 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法:
单点和多点BET比表面积，Langmuir比表面积
Temkin and Freundlich等温线分析
多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布
孔体积和用户孔径范围内的总孔体积
MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积
f-Ratio plots，D-R，D-A
H-K法(包括Cheng & Yang校正，Saito & Foley校正)
DFT密度函数理论，包括NLDFT等

产品应用
借助于气体吸附原理（典型为氮气）可进行等温吸附和脱附分析，用于确定比表面积、微孔孔体积和孔面积、中孔体积和面积、总孔体积等。
适用于各种材料的研究与产品测试，包括测量沸石、碳材料、分子筛、二氧化硅、氧化铝、土壤、黏土、有机金属化合物骨架结构等各种材料。