XL 30 ESEM/Genesis (

品牌型号
XL 30 ESEM/Genesis (EDAX)

仪器简介
     荷兰飞利浦公司的环境扫描电子显微镜带有二次电子探测器﹑背散射电子探测器﹑低真空探测器﹑环境扫描探测器，并附有美国EDAX公司的能谱仪。可作固体表面微区观察，微区化学成份定性﹑定量分析。可作导电样品﹑非导电样品﹑含水生物样品的无损分析。

应用范围
     ※ 固体材料样品表面形貌观察及化学成份定性定量分析。
     ※ 金属材料断口﹑腐蚀﹑失效分析。
     ※ 玻璃﹑陶瓷表面微区分析。
     ※ 塑料﹑橡胶表面微区分析。
     ※ 天然人造纤维﹑皮毛表面微区分析。
     ※ 金属镀层﹑陶瓷釉层分析。
     ※ 金银首饰﹑仿真首饰﹑玉石﹑宝石的化学成份无损分析。
     ※ 含水生物样品微区观察。

仪器指标：
     ※ 分辨率：3.5nm；
     ※ 放大倍率：10倍～50,000倍；
     ※ 能量分辨率：130eV；
     ※ 分析元素范围：⁵B ～ ⁹²U；
     ※ 分析元素检测极限：0.2%；
     ※ 元素定量分析范围：1% ～ 100%。