美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(

美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)

TSI的扫描电迁移率粒径谱仪3936仪是一种高分辨率的纳米粒径谱仪，长期以来一直被誉为纳米应用包括纳米研发纳米粒度表征研究者的选择。

TSI的开关电源™仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准方法。这些粒子粒径谱仪也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所（NIST）使用一个TSIDMA尺寸为60nm和100nm的标准参考材料（聚苯乙烯乳胶球悬浮在液体中或PSL。

电迁移率粒径谱仪的大小是一个谨慎的技术，数浓度没有假设的粒度分布的形状直接测量。该方法是独立的颗粒或流体的折射率，并具有高度的绝对尺寸精度和测量重复性。信任的研究人员，TSI扫描电迁移率粒径谱仪提供高质量的数据超过30年。

特点和优点

•高分辨率数据–多达167个通道

•宽的尺寸范围从2.5纳米到1000纳米–

•快速测量–完整大小分布在16秒

•宽浓度范围从1到10⁷个每立方厘米

•灵活设置选项；水或正丁醇液选择CPC；传统的或非放射性中和剂的选择

•计算机自动化流程控制

•符合ISO15900:2009颗粒平均粒径的方法

•易于设置和操作

•离散粒子测量：适用于多模样本独立的颗粒的光学性质

应用

•纳米技术研究和材料的合成

•大气研究和环境监测

•燃烧和发动机排气的研究

•室内空气质量的测量

•核/冷凝的研究

•吸入毒理学研究