光干涉薄膜测厚仪——德国Mikropac

光干涉薄膜测厚仪——德国Mikropack / NanoCalc-2000-VIS/NIR

型号：NanoCalc-2000-VIS/NIR型

国别：德国

生产厂家：Mikropack公司

简介：德国Mikropack公司的NanoCalc-2000-VIS/NIR型光干涉薄膜测厚仪根据光干涉原理测量薄膜厚度。最高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度（其中一层为基地材料）。该仪器自带有构建材料结构的拓展功能，可对单/多层薄膜数据进行拟合分析，可对薄膜材料进行预选模拟设计，结果可以2D或3D的形式显示。仪器操作简单、测速快：100ms-1s，在厂家和工地已得到广泛应用，适用于建材、军工等各个领域。

仪器的性能指标：

波长范围：400 -1100 nm

膜厚测试范围：50 nm-100μm

重现性：0.3nm

精度：优于1%

测量时间：100ms-1s

测量层数：单层拟合（多层薄膜）

入射角：90度

斑点大小：400微米

主机尺寸：180mm x 152 mm x 263mm

电源：240V/50Hz

通讯： USB 1.1

主要用途：

可应用于在膜厚测量、半导体膜、测量微纳米软物质、测定薄膜、薄片等材料厚度、线膜厚测量、测量镀在钢、铝、铜等金属物质以及陶瓷、塑料凳非金属上的粗糙膜层。